X射线荧光法光谱涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY 237

2015-01-05 23:05:27作者:科讯电子来源:青岛科讯
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237
 
  X射线荧光光谱仪,采用手动或自动方式,测量和分析印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。
 
FISCHERSCOPE X-RAY
 
简介:
 
  FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®是一款应用于广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
 
  比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。为了使每次测量都能在最优的条件下进行,仪器配备了可电动调整的多个准直器及基本滤片。
 
  由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。最多可同时测量的从氯(17)到铀(92)中的24种元素。
 
  XDLM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器了。
 
  XDLM系列仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计。仪器配备高速可编程X/Y平台,它是质量控制和生产监控的自动测量过程的最合适的测量仪器。
 
典型的应用领域有:
 
  测量大规模生产的零部件
 
  测量微小区域上的薄镀层
 
  测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
 
  全自动测量,如测量印刷线路板
 
设计理念
 
  FISCHERSCOPE X-RAY XDLM设计为界面友好的台式测量仪器系列。它们都有可调的Z轴升降系统,但是样品平台不同。XDLM231型的载物台为固定式平台。
 
  XDLM232型配有可手动操控的X/Y平台。XDLM237型则配备了马达驱动的X/Y工作台。当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。所有型号都配备了激光点,可辅助定位并快读对准测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察视频摄像头测量过程和进度。位置的精确微调可以直接手动调整仪器或摇杆,或通过操作鼠标和键盘来实现。
 
  所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM? 软件在电脑上完成的。
 
  XDLM型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“DeutscheR?ntgenverordnung-R?V”法规规定。
 
通用规范
 
  用途:能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)用于测量镀层和微小结构,分析合金和微量组分。
 
  元素范围:最多同时测量从氯(CI17)到铀(U92)之间的24种元素
 
  设计理念:台式仪器,测量门向上开启
 
  马达驱动的可更换的准直器和基本滤片
 
  视频摄像头和激光点定位测量点
 
  Z轴电调,可编程
 
  测量方向:从上到下
 
X射线源
 
  X射线源:带铍窗口的微聚焦钨管
 
  高压:三种高压:30kV,40 kV,50 kV,可调整
 
  孔径(准直器):4个可切换准直器:圆形¢0.1mm;¢0.2mm;0.05×0.05mm方形0.05×0.05mm(可按要求定制其它规格)
 
  基本滤片:3种可更改的基本滤片(标准配置:镍,铝,无)
 
  测量点:取决于测量距离及使用的准直器的大小,实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。最小的测量点大小约为¢0.09×0.09mm
 
  测量距离,(如腔体内部测量):20-80mm,使用专利保护的DCM(测量距离补偿法)功能
 
  测量距离为0-20mm时,为已校准范围
 
  测量距离为20-80mm时,为非校准范围
 
X射线探测器
 
  X射线接收器:比例接收器
 
样品定位
 
  视频显示系统:高分辨CCD彩色摄像头,用于查看测量位置
 
  手动调焦或自动聚焦
 
  十字线刻度和测量点大小经过校准
 
  测量区域的LED照明亮度可调节
 
  激光点用于精确定位样品
 
  放大倍数:20x-180x(光学变焦:20x-45x;数字变焦:1x,2x,3x,4x)
 
样品台

样品台 XDLM237
设计 马达驱动可编程X/Y平台
最大移动范围 255×235mm
X/Y平台移动速度 ≤80mm/s
X/Y平台移动重复精度 ≤0.01mm(单向)
Z轴移动范围 140mm
可用样品放置区域 300×350mm
样品最大重量 5kg,降低精度可达20kg
样品最大高度 140mm
电气参数


电压,频率 AC 115V或AC 230V 50/60Hz
功率 最大为120W(不包括计算机)
保护等级 IP40
仪器规格

外部尺寸 宽×深×高(mm):570×760×650
重量 约120kg
内部测量室尺寸 宽×深×高(mm):460×495×146
环境条件要求

操作温度 10℃-40℃/50℉-104℉
存储或运输时温度 0℃-50℃/32℉-122℉
空气相对湿度 ≤95%,无结露
计算系统

计算机 带扩展卡的计算机系统
软件 菲希尔WinFTM® 软件
执行标准

CE合格标准 EN61010
X射线标准 DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式许可 安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国Deutsche Rontgenverordnug-RoV”法规规定。
订购号

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231 604-345
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 604-346
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 604-347